Künstliche Befruchtung: Hoffnung auf bessere Erfolgsquote

Bonn (ots) - Eine neue Untersuchungsmethode lässt kinderlose Paare
auf eine höhere Erfolgsquote bei einer künstlichen Befruchtung
hoffen. Das Verfahren kann Chromosomenschäden der Eizelle mit
90-prozentiger Wahrscheinlichkeit sichtbar machen. Das zeigt eine
aktuelle Studie der Universität Bonn und des Zentrums für
Reproduktionsmedizin in Bologna, Italien. Ärzte können so gezielt
gesunde Eizellen in die Gebärmutter implantieren. Bislang führt eine
künstliche Befruchtung nur in einem Drittel der Fälle zu einer
erfolgreichen Schwangerschaft. Chromosomen-Defekte gelten dafür als
wesentlicher Grund.

Die Ureizellen jeder Frau enthalten jede Menge genetisches
Material: Von jedem der 23 Chromosomen gibt es zwei Varianten - eine
vom Vater, eine von der Mutter. Jede dieser Varianten existiert zudem
in zwei identischen Kopien. Kurz vor der Befruchtung sortiert die
Zelle daher drei Viertel ihres Erbguts aus und verpackt sie in
kugeligen Zellabschnürungen, den Polkörperchen.

Leider kann es dabei zu Fehlern kommen. Die reife Eizelle enthält
dann zuwenig oder zuviel Chromosomen und ist oft nicht lebensfähig.
Für eine künstliche Befruchtung suchen die Ärzte daher nach genetisch
einwandfreien Eizellen. "Dazu nehmen wir die Polkörperchen unter die
Lupe", erklärt Professor Dr. Markus Montag von der Universität Bonn.
"Da sie das aussortierte genetische Material aufnehmen, können wir so
auf die genetische Ausstattung der Eizelle schließen."

Derartige Polkörperanalysen sind nicht neu, funktionierten bislang
aber nicht gut genug, um wirklich alle Chromosomenfehler
auszuschließen. Das nun getestete Verfahren macht dagegen auch
kleinere Defekte sichtbar. Die Forscher haben damit die Polkörper von
knapp 230 Eizellen untersucht. In 89 Prozent der Fälle konnten sie so
den chromosomalen Status der jeweiligen Eizelle fehlerfrei bestimmen.

Besonders erstaunlich: Knapp 80 Prozent der Eizellen wiesen
Chromosomendefekte auf. "Wir hatten in die Untersuchung nur Frauen
über 40 Jahren aufgenommen", nennt Studien-Koautorin Professor Dr.
Katrin van der Ven einen Grund. "Dennoch hat uns diese hohe
Fehlerrate überrascht."

Originaltext: Universität Bonn
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