FEI präsentiert mit PHENOM am 3.5.07(14 Uhr, Airport Stuttgart Konferenzzone Terminal 1, Ebene 4) einen neuen Mikroskoptyp, der die Leistung eines Elektronenmikroskops zum Preis eines Lichtmikroskops

Reutlingen (ots) - Weil praktisch jeder Benutzer das Instrument
nach nur wenigen Minuten bedienen kann und innerhalb von Sekunden
Vergrößerungsergebnisse bis auf die Nanoebene mit in dieser Kategorie
nie da gewesener Qualität vorliegen, eröffnet PHENOM eine Vielzahl
neuer und produktiver Einsatzmöglichkeiten in der Industrie und
Wissenschaft. PHENOM wendet sich an Nutzer aus dem Umfeld der
Industrie und Forschung und wird mit einem Preis von 62.000 Euro auch
für kleinere Unternehmen und Einrichtungen einen praktikablen und
erschwinglichen Zugang zur Mikroskopiewelt schaffen.

PHENOM schlägt eine Brücke zwischen der Licht- und
Elektronenmikroskopie. Mit dem nur 30x60x50 Zentimeter großen Gerät
kommt ein neuartiger Typ von Mikroskop auf den Markt, der bequem auf
jedem Tisch Platz findet und ohne speziell geschultes Personal und
aufwändige Laborbedingungen auskommt.Das Mikroskop im Tischformat
zeichnet sich durch seine einfache Bedienbarkeit, leichte
Integrierbarkeit, niedrige Betriebskosten und schnellen
Probendurchsatz aus. Innerhalb kürzester Zeit ist ein
Untersuchungsgegenstand in die Probenschleuse eingelegt, nach etwa 30
Sekunden liegt das Ergebnis auf dem Bildschirm/Touchscreen vor: Mit
wahlweise 20 bis 20.000-facher Vergrößerung, einzigartiger
Bildqualität und einer Partikelauflösung bis ca. 30 Nanometer.

PHENOM findet sein Einsatzfeld überall dort, wo rasch und
zuverlässig Erkenntnisse über Zustand und Beschaffenheit von
Oberflächen gewonnen werden müssen. PHENOM kommt in der Metall-,
Kunststoff- oder Papierindustrie, im medizinischen, biologischen oder
pharmazeutischen Bereich als Instrument zur Kontrolle von Fertigungs-
und Qualitätsmanagement-Prozessen zum Einsatz. PHENOM identifiziert
Morphologien auf Partikelebene, unterstützt bei der Untersuchung von
Gefügeveränderungen und ist ein ideales Werkzeug beim Aufspüren von
Bruch- und Schadensereignissen.

Originaltext: FEI Technologies Inc., Vertrieb PHENOM Deutschland
Digitale Pressemappe: http://presseportal.de/story.htx?firmaid=66205
Pressemappe via RSS : feed://presseportal.de/rss/pm_66205.rss2

Pressekontakt:
Information, Anmeldung zur Pressekonferenz (bis 30.4.2007):
FEI Technologies Inc.
Vertrieb PHENOM Deutschland
Auchtertstrasse 4
DE-72770 Reutlingen

Pressekontakt: Carsten Pape
FreeCall: 08000 PHENOM
Telefon: +49 71 21 / 70 12 - 200
Telefax: +49 71 21 / 70 12 - 299
E-Mail: infophenom-germany@fei.com
Internet: www.phenom-world.com

Teilnehmer erhalten in den Flughafen-Parkhäusern P0, P1, P2, P4, P8,
P9, P10 eine Ermäßigung von 50%.


	hier anmelden...